书目详细信息
： C/C++程序缺陷与优化
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-121-22632-8:CNY49.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | C/C++程序缺陷与优化/.于秀山编著 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2014 |
| 载体形态项： | 273页:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书从另外一个视角——程序缺陷的角度来探讨程序设计与优化。主要包括编码风格、内存管理、内存泄漏、缓冲区溢出、指针使用、安全等方面。对于每一种缺陷，通过实例分析了缺陷产生的原因，并给出了具体的修改和优化方法。 |
| 题名主题： | C语言 程序设计 |
| 题名主题： | C语言 |
| 题名主题： | 程序设计 |
| 题名主题： | 36 |
| 中图分类： | TP312C |
| 个人名称等同： | 于秀山 编著 |
| 记录来源： | CN SDL 20140527 |