书目详细信息
： 化学键的弛豫
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-04-047750-4:CNY179.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 化学键的弛豫/.孙长庆，黄勇力，王艳著 |
| 出版发行项： | 北京:,高等教育出版社:,2017 |
| 载体形态项： | 13,647页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 材料基因组工程丛书 |
| 一般附注： | 国家科学技术学术著作出版基金资助出版 |
| 提要文摘： | 本书共分为三篇。全书重点强调物理原理和概念。第一篇专注于分析固体表皮化学吸附成键、断键和键弛豫动力学行为，并确立化学键-能带-势垒之间的联系。第二篇致力于探讨降低原子配位导致的普遍键弛豫现象，并阐明了键序-键长-键能的关联，由此区分纳米固体与宏观块体材料的本质起因。第三篇致力于化学键的受热和受力弛豫，并以此厘清低维体系在变温、加压条件下弹性和塑性力学行为的规律。 |
| 题名主题： | 化学键 弛豫 研究 |
| 中图分类： | O641.1 |
| 个人名称等同： | 孙长庆 著 |
| 个人名称等同： | 黄勇力 著 |
| 个人名称等同： | 王艳 著 |
| 记录来源： | CN TSG 20210607 |