书目详细信息
： 微电子器件可靠性
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-04-063764-9:CNY45.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 微电子器件可靠性/.贾新章 ... [等] 编著 |
| 版本项： | 第2版 |
| 出版发行项： | 北京:,高等教育出版社:,1999 |
| 载体形态项： | 277页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 集成电路新兴领域“十四五”高等教育教材 |
| 提要文摘： | 本书共7章, 以硅微电子器件为中心, 在介绍可靠性基本概念、梳理可靠性基本理念的基础上, 重点介绍微电路可靠性设计技术、可靠性的工艺保证要求和控制方法、微电路可靠性试验与评价, 以及支撑这些技术的可靠性数学、可靠性物理和失效分析技术。本书同时介绍了氮化镓器件的主要失效机理和可靠性设计对策。 |
| 题名主题： | 微电子技术 电子器件 可靠性 高等学校 教材 |
| 中图分类： | TN4 |
| 个人名称等同： | 贾新章 编著 |
| 个人名称等同： | 刘红侠 编著 |
| 个人名称等同： | 游海龙 编著 |
| 记录来源： | CN BWZ 20250612 |