书目详细信息
： 扫描电子显微学及在纳米技术中的应用
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-04-019008-3:CNY80.00 |
|---|---|
| 作品语种： | eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 扫描电子显微学及在纳米技术中的应用/.周维列，王中林主编 |
| 出版发行项： | 北京:,高等教育出版社:,2007 |
| 载体形态项： | 450页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 当代科学前沿论丛 |
| 提要文摘： | 在过去的10年中，纳米技术的飞速发展使得扫描电子显微镜成为了一种分析和构建新纳米材料、结构和器件不可缺少的有力的工具。新纳米材料的发现需要通过先进的分析技术和技能来获取高质量的图片，从而帮助我们理解纳米结构，以达到改进合成方法和提高性能的目的。 |
| 并列题名： | Advanced Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications eng |
| 题名主题： | 扫描电子显微镜 英文 纳米材料 应用 |
| 中图分类： | TN16 |
| 个人名称等同： | 周维列 主编 |
| 个人名称等同： | 王中林 主编 |
| 记录来源： | CN TSG 20210608 |