书目详细信息
： 数字集成电路测试及可测性设计
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-122-46553-5:CNY79.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 数字集成电路测试及可测性设计/.张晓旭，张永锋，山丹编著 |
| 出版发行项： | 北京:,化学工业出版社:,2024 |
| 载体形态项： | 190页:;+彩图:;+26cm |
| 丛编项： | “集成电路设计与集成系统”丛书 |
| 提要文摘： | 本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发，系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括：数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试，以及可测性设计案例及分析，本书将理论与实践相融合，深入浅出地进行理论讲解，并辅以实例解析，帮助读者从入门级别的理解到信手拈来的精通，实现从理论知识到工程应用的有效过渡。 |
| 并列题名： | Digital integrated circuit testing and testability design eng |
| 题名主题： | 数字集成电路 测试技术 |
| 中图分类： | TN431.207 |
| 个人名称等同： | 张晓旭 编著 |
| 个人名称等同： | 张永锋 编著 |
| 个人名称等同： | 山丹 编著 |
| 记录来源： | CN SDL 20250506 |