书目详细信息
： 集成电路测试原理
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-5770-0163-0:CNY68.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 510000 |
| 题名责任者项： | 集成电路测试原理/.戴志坚，王厚军主编 |
| 出版发行项： | 成都:,电子科技大学出版社:,2023 |
| 载体形态项： | 204页:;+图:;+26cm |
| 一般附注： | 本科规划教材 |
| 提要文摘： | 本书共六章，内容包括：集成电路测试技术概述，直流参数及模拟集成电路测试，数字集成电路测试，混合信号集成电路测试，ATE系统和DIB设计，测试应用开发。 |
| 题名主题： | 集成电路 电路测试 高等教育 教材 |
| 中图分类： | TN407 |
| 个人名称等同： | 戴志坚 主编 |
| 个人名称等同： | 王厚军 主编 |
| 记录来源： | CN SDL 20241101 |